光電融合技術：設計環境・測定技術の最前線

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概要

AI(人工知能)/ML(機械学習)時代における高速通信と低消費電力のニーズを受け光電融合技術の重要性が急速に高まる中、設計および測定に関するお問い合わせが増えてきております。本セミナーでは、フォトニクス集積回路（Photonics IC/PIC）の設計からウェハー・チップレベルでの測定まで、包括的に支援する最先端ソリューションを導入事例や応用例を交えながら紹介します。

セッション1：フォトニック集積回路設計環境「ADS Photonic Designer」の紹介

近年、フォトニック集積回路（PIC）の設計は、デジタルコヒーレントや光コンピューティングなど、複雑な回路構成の応用が増加しています。このトレンドにより、設計手法はレイアウトドリブンからスケマティックドリブンへと変化しています。また、より実際に近い設計と評価を行うために、SPICEモデルと光導波路・光変調器を同時に扱うような、光電融合のシミュレーション環境が求められています。このセッションでは、光電融合に対応するPIC設計環境「ADS Photonic Designer」について、具体的な活用例を交えてご紹介します。

講師：キーサイト・テクノロジー　梅川光晴 / 時間：約30分

セッション2：AI/MLを支えるPhotonics IC測定ソリューション

自動運転、サイバーセキュリティ、遠隔医療など、人工知能技術のリアルタイム運用を可能にする光高速通信の分野で、「光電融合技術」が注目を集めています。この技術において中核的な役割を果たすPhotonics IC（フォトニクス集積回路）の開発・製造分野には、多くのメーカーが新たなビジネスチャンスを見出し、参入を進めています。このセッションでは、Photonics ICのウェハーレベル測定に取り組むメーカーの皆様を対象に、東京工業大学・西山研究室に導入された最新の測定ソリューションをご紹介いたします。

講師：キーサイト・テクノロジー　鈴木英行 / 時間：約30分

セッション3：光電融合デバイスの波形評価とその最適化

PAM4信号に代表される高次変調方式の普及により、光電融合デバイスの動特性評価においては、従来の周波数応答特性のみでは不十分となり、「アイパターン」による波形評価の重要性が高まっています。さらに、評価効率の向上と研究開発のスピードアップを図るうえで、ウェハー・チップレベルでの測定が不可欠です。このセッションでは、光電融合デバイスをプロービング環境で波形評価する上での課題をはじめ、基本的な評価方法や測定環境の最適化について解説します。

講師：キーサイト・テクノロジー　川上育夫 / 時間：約30分

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