EMCの品質を担保することは、年々困難な課題になっています。変動したり、突発的なノイズがあると、従来の測定手法では、ノイズの取りこぼしや、正しいレベルの測定が出来ない、などの問題が発生しています。Time Domain Scan（TDS）は、FFTを利用した新しい測定手法で、これらの問題を解決するのに大変有効です。本セミナーでは、TDSの原理をやさしく解説し、有効な事例で理解を深めることが出来ます。

講師：株式会社東陽テクニカ　中村 哲也 様

5G／6G通信、超高速デジタルICのクロック、レーダーや衛星等、多岐にわたるアプリケーションにおいて、超低位相雑音が要求され、試験要求も厳しくなっています。本セミナーでは、新しいシグナルソース・アナライザによる位相雑音測定についてわかりやすく解説。また、システム全体の位相雑音悪化の原因を特定するためのアンプやミキサの付加位相雑音測定の新手法も紹介します。

講師：キーサイト　高谷 侑希

2030年の6G通信実用化に向けてミリ波帯，サブテラヘルツ帯の周波数帯活用が期待されている．本講演では先端シリコンプロセスによるミリ波帯・サブテラヘルツ帯集積回路の開発例をもとに，ミリ波超の周波数帯における高精度評価・高精度設計に必要となる項目について紹介し，本手法を適用した評価・設計例について報告する．

講師：三菱電機株式会社　杣田 一郎 様 / キーサイト　井上 賢一

5G/6Gなどの高速通信社会には高性能な半導体が欠かせません。その半導体の性能に直結する材料として低誘電素材が重要な役割を果たしております。食品会社である味の素株式会社が低誘電素材の開発によっていかに半導体社会に貢献しているか、また素材開発にあたり特性を正確に評価する事がいかに重要かを、測定装置の実例を交えながら紹介します。セミナ後半は、キーサイトより、素材評価用の様々な測定装置をご紹介します。

講師：味の素株式会社　大石 凌平 様 / キーサイト　大津谷 亜士