Back to Basics 웨비나 시리즈 - Semiconductor 트랙

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정밀 SMU 기초 및 I-V 측정

반도체 파라미터 특성 및 소자의 I-V 곡선 특성화를 위해 사용되는 SMU 장비에 대하여 소개 드립니다. 또한, 전원 인가와 측정을 동시에 진행하며 피코 암페어(pA) 단위의 저전류를 측정하는 방법에 대해서도 설명드립니다.
전력 반도체(SiC,GaN) 산업 동향과 테스트 방법

전력 반도체 트렌드와 기존 Si 기반 전력 반도체와 비교해 SiC(실리콘 카바이드) 및 GaN(갈륨 질화물)이 갖는 이점이 무엇인지를 소개해 드립니다. 그리고 이러한 차세대 전력 반도체는 어떻게 사용되며, 이를 위해 평가해야 하는 항목이 무엇인지에 대해서 정의해 드리고 마지막으로 키사이트의 전력 반도체용 테스트 솔루션을 소개해 드립니다.

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