資料傳輸速率已經倍增，但驗證方法卻未能同步跟上。隨著 PCIe、DDR 與多 Tb 等級光互連技術持續演進，工程師在設計流程更早期便開始面臨訊號完整性挑戰。

歡迎加入由 Niels Fache 主講的技術分享。身為 Keysight Technologies 設計工程軟體部門資深副總裁暨總經理，他將深入探討在傳輸速度持續提升下，驗證工作為何變得更加困難，以及工程團隊如何因應這些挑戰。

您將了解模擬技術（Simulation）、架構模型（Architecture Modeling）以及高擬真量測（High-Fidelity Measurement）如何協助工程師在晶片尚未完成前就提前驗證設計，並有效降低後端開發風險。

隨著系統朝向更高頻率和更寬頻寬發展，即使是微小的測量誤差也可能導致代價高昂的設計決策。無線、雷達、衛星和光通訊領域的工程師如今必須驗證那些對現有工具性能構成極限的訊號。

歡迎參加 Keysight 產品管理副總裁 Jun Chie 的講座，探討測量精度在何處開始下降，以及工程師如何應對。

您將了解新一代儀器如何幫助提高訊號精度、降低不確定性並增強設計決策的信心。

人工智慧資料中心網路的規模已發展到設備級驗證無法反映真實效能的程度。工程師必須了解系統在實際流量條件下的運作情況，而不僅僅是在孤立的測試環境中。

加入 Keysight 網路應用與安全副總裁兼總經理 Ram Periakaruppan 的講解，了解如何透過大規模流量模擬來發現擁塞、延遲問題和效能瓶頸。

您將看到如何在真實工作負載下驗證人工智慧基礎設施，並確保其在大規模部署下可靠運作。

隨著半導體複雜性的增加和電路板設計密度的提高，製造團隊面臨更嚴格的公差要求、更少的測試機會以及維持良率和產能的更大壓力。在生產規模上驗證射頻性能和高速數位訊號完整性，增加了一層新的複雜性，而傳統方法難以應對。

歡迎參加由 Keysight 電子工業解決方案事業部資深副總裁兼總裁 Jason Kary 主講的研討會，共同探討製造驗證的演變。

您將了解到晶圓級和電路內測試策略如何提高覆蓋率、更早發現缺陷，並在不影響品質的前提下，實現一致的大規模量產。