Ort: Berlin
Agenda:
08:00 | Anmeldung
08:30 | Begrüßung & Einführung (FHG IZM + Keysight)
09:00 | Vortrag: Grundlagen der Spektrum- und Signalanalyse
10:15 | Kaffeepause
10:30 | Vortrag: Grundlagen der vektoriellen Signalgenerierung
12:00 | Mittagessen
13:00 | Vortrag: Grundlagen der Netzwerkanalyse
14:15 | Kaffeepause
14:30 | Vortrag: Live-Demos und Labor-Touren
Ca. 16:30 | Ende der Veranstaltung
Grundlagen der Spektrum- und Signalanalyse
Wir erklären anhand von praktischen Vorführungen, worauf es bei der
Spektrumanalyse ankommt, wie man den Rauschteppich reduzieren und damit viel
empfindlicher messen kann. Außerdem behandeln wir die wichtigsten Komponenten,
die für einen Spektrumanalysator notwendig sind, und erläutern das
Zusammenspiel dieser. Zudem berechnen wir die mögliche Messgenauigkeit.
Grundlagen der vektoriellen Signalgenerierung
Hier gehen wir auf das grundlegende Konzept eines vektoriellen Generators ein,
sowie auf die Prinzipien der digitalen Modulation. Wir erklären, welche
Komponenten zusammenspielen müssen (Basisbandgenerator, Ausgangsstufe, ALC
etc.), damit ein sauberes moduliertes Signal möglich wird und zeigen dies an
praktischen Beispielen (z.B. WLAN, Bluetooth o. 5G).
Grundlagen der Netzwerkanalyse
In dieser Präsentation gehen wir auf folgende Themen ein:
• Welche Messungen macht ein Netzwerkanalysator?
• Was sind die wichtigsten Baugruppen der Geräte?
• Was sind S-Parameter?
• Wie und warum kalibriert man einen Netzwerkanalysator?
Abgerundet wird das Thema durch praktische Messbeispiele zur Veranschaulichung
der Inhalte.
Labor-Tour-Themen
RF material and components characterization
In the laboratory for material and components characterization, we show
different measurement methods, e.g. Fabry-Perot resonators
and Free-Space quasi-optical bench to characterize high-frequency dielectrics
up to terahertz frequencies.
Antenna evaluation and characterization
In the Antenna absorber chamber with a robot to measure the spherical
radiation pattern diagram of passive antennas up to 325 GHz.
RF characterization of mm-wave frontend modules
Characterization of active components / modules with coaxial and waveguide
outputs as well as on wafer probing level up to 325 GHz.
Example measurements are: Broadband sensitivity analysis, performance analysis
of TX and/or RX modules on wafer or PCB.
Functional evaluation and calibration of radar and communication modules
Characterization and evaluation of active modules up to 325 GHz
Corner- reflectors and standardized targets for evaluation of radar modules
(angle separation capability, depth separation capability, ...)
Line of Side Measurement / Non-Line of Side Measurement of Communication modules
Die Labor-Tour-Themen werden teilweise in englischer Sprache vorgestellt, u.a. durch Herrn Dr. Seyyid Dilek, Fraunhofer IZM.
