La diffusione dei dispositivi basati su semiconduttori Wide Bandgap per l’Elettronica di potenza ed eDrives apporta diversi miglioramenti ma anche nuove sfide in fase di progettazione e test.
Come abbreviare i cicli di progettazione, prototipazione e validazione del prodotto garantendo un elevato grado di qualità? Come eseguire la caratterizzazione statica e dinamica del componente? Come controllare gli effetti dinamici nelle applicazioni circuitali? Quali tool di simulazione occorre conoscere e saper utilizzare? Sono solo alcune delle domande che si pongono Responsabili, Ingegneri e Tecnici dei reparti di R&D, Progettazione e Validazione Prodotto.
Ti aspettiamo per un seminario tecnico gratuito nel quale gli esperti Keysight, con il contributo del Prof. Radu Bojoi del Politecnico di Torino, presenteranno le tendenze del settore e le nuove metodologie di progettazione e test. Saranno inoltre introdotte alcune delle più recenti soluzioni di misura RF per test di componenti e di sistemi.
Non perdere l'occasione per approfondire nuove tecniche di misura, partecipare a dimostrazioni dal vivo e discutere e confrontarti con gli esperti Keysight.
Guest speech:
Power electronics and eDrives for eMobility: Design challenges and future perspectives
- Radu Bojoi, Professore Ordinario di Elettronica di Potenza e Electrical Drives del dipartimento Energia "G. Ferraris" e Coordinatore del Power Electronics Innovation Center del Politecnico di Torino
Agenda:
| 09:00 - 09:30 | Registrazione & Welcome Coffee |
| 09:30 - 09:45 | Benvenuto e Introduzione |
| 09:45 - 10:30 |
Misura delle caratteristiche dinamiche di dispositivi di potenza IGBT, SiC, GaN con Double Pulse Tester - D. Beretta, Keysight
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| 10:30 - 11:00 | Coffee Break & Demo Session |
| 11:00 - 11:45 |
Guest speech:
Power electronics and eDrives for eMobility: Design challenges and future perspectives
- Prof. Radu Bojoi, Politecnico di Torino
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| 11:45 - 12:30 |
Caratterizzazione IV e CV di dispositivi di potenza con Semiconductor parameter analyzer, Impedance analyzer e Vector Network Analyzer – D. Beretta, Keysight |
| 12:30 - 13:30 | Pranzo |
| 13:30 - 14:00 | Caratterizzazione di dispositivi e materiali da DC a onde millimetriche - S.Parrella, Keysight |
| 14:00 - 14:45 | Analisi del comportamento di Power Converters mediante ADS/PEPro: stima dei parassiti del PCB e analisi del loro effetto su rimbalzi di massa, sovratensioni, sbilanciamento di correnti e oscillazioni indesiderate - F. Palomba, Keysight |
| 14:45 - 15:30 |
Introduzione delle piu’ recenti soluzioni di misura RF: ENA-X Analizzatore di reti vettoriale, SSA-X Analizzatore di sorgenti, MXG Generatore vettoriale multicanale - S. Parrella, Keysight |
| 15:30 - 15:45 | Conclusioni |
La caratterizzazione di dispositivi di potenza pone diverse sfide. La misura IV chiede tensioni da migliaia di volt e correnti di centinaia di ampere, la misura CV chiede frequenze di analisi sempre maggiori oltre al convenzionale 1MHz. Non è secondaria la possibilità di gestire queste misure con facilità e in sicurezza. Passeremo in rassegna le possibilità disponibili basate sulla serie B1505A Semiconductor parameter analyzer, E4990A Impedance analyzer e E5080A Vector Network Analyzer.
Gli effetti dei parassiti del PCB in circuiti dedicati alla conversione di potenza hanno un impatto sempre maggiore all’aumentare della corrente in gioco, e della sua variazione col tempo (dI/dt). L’analisi dei parassiti mediante il simulatore ADS/PEPro di Keysight permette di valutarne gli effetti e mitigarne l’impatto, riducendo il numero di cicli di progettazione e ottimizzando le prestazioni del circuito.
Introduzione delle piu’ recenti soluzioni di misura RF: ENA-X Analizzatore di reti vettoriale, SSA-X Analizzatore di sorgenti, MXG Generatore vettoriale multicanale
Le attuali tecniche di trasmissione dati ad alta velocità richiedono schemi di modulazione sempre più complessi, tecniche di trasmissione multicanale con bande di analisi sempre più ampie. Saranno presentati gli strumenti di recente introdotti nel portfolio RF di Keysight per soddisfare le conseguenti nuove esigenze di test e misura.
