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Seminario de Semiconductores 2026 | Puebla

Jueves, 26 de marzo, 2026 | 10:00 a.m. - 1:30 p.m. CT

Registro: 9:30 a.m.

Lugar

CENTRO NACIONAL DE DISEÑO DE SEMICONDUCTORES KUTSARI – UNIDAD PUEBLA
C. 5 Nte. 134 San Juan Aquiahuac
72810 San Andrés Cholula, Puebla
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Salón: Sala de capacitación - PB

El ecosistema de semiconductores en México está creciendo, y la preparación técnica es esencial.

Acompáñanos en Puebla a un seminario especializado en semiconductores que reúne a la industria, la academia y el gobierno para explorar enfoques prácticos en el diseño, prueba y fabricación de semiconductores.

Organizado en el Centro Nacional de Diseño de Semiconductores Kutsari – Unidad Puebla, este seminario utilizaráel laboratorio patrocinado por Keysight como su columna vertebral técnica, brindando a los participantes acceso directo a las capacidades de medición avanzadasque impulsan el aprendizaje práctico y una innovación más rápida.

Lo que obtendrás:

  • Comprender las tendencias emergentes y los desafíos técnicos que están moldeando el desarrollo de semiconductores de próxima generación.
  • Aplicar estrategias prácticas utilizando herramientas avanzadas para modelar, validar y optimizar el desempeño de dispositivos.
  • Abordar los desafíos de prueba en semiconductores digitales de alta velocidad, RF, electrónica de potencia y automotrices.
  • Experimentar demostraciones prácticas utilizando soluciones avanzadas de medición de Keysight a lo largo del flujo de diseño y validación de semiconductores.
  • Conectar con la creciente red de talento e investigación en semiconductores de México.

Esta sesión está diseñada para ayudarte a avanzar del concepto al diseño validado con mayor velocidad, precisión y confianza.

No puedes hacer un prototipo que no puedes medir.
No puedes validar lo que no puedes probar.
Y no puedes competir globalmente sin ambos.

El cupo es limitado. ¡Regístrate hoy mismo!

Agenda

  1. Introducción
  2. Modelado y Diseño
  3. Fundamentos de Medición Paramétrica
  4. Curvas IV y CV en Semiconductores
  5. Métodos para Obtener las Curvas IV y CV
  6. Desafíos en la Medición de Dispositivos
  7. Detección de Daños en ICs
  8. Análisis de Alta Precisión para Pruebas Paramétricas
  9. Demostraciones

Presentador

  • MC. Raúl Trujillo
    Ingeniero de Soluciones (SE)
Semiconductors Seminar 2026 | Puebla