Themen des Seminars:
Dieses Seminar vereint Keysight-Experten und führende Branchenvertreter, um gemeinsam die neuesten Innovationen im Bereich des Testens und Designs photonischer integrierter Schaltkreise (PICs) zu beleuchten.
Die Sitzungen umfassen unter anderem folgende Themen:
Zusätzlich wird vorgestellt:
| Agenda | |
|---|---|
| 8:30 | Anmeldung & Empfang mit Kaffee |
| 9:00 | Begrüßung |
| 09:15 | Einführung: Überblick über Markttrends |
| 09:45 | Wavelength & Polarization dependent optical component test. Controlling input polarization for PIC measurements |
| 10:45 | Networking & Kaffeepause |
| 11:15 | High-frequency characterization of optical transmitters (TX) and receivers (RX) Axel Hahn |
| 12:15 | Gemeinsames Mittagessen |
| 13:00 | Testing coherent optical transmitter and receiver components Jörg Pfeifle |
| 14:00 | Networking & Kaffeepause |
| 14:30 | Automated on-wafer testing of photonic integrated circuits (PICs). PAM4 eye diagram measurements Armands Ostrovskis |
| 15:30 | Photonic Designer - holistic design flow for photonic integrated circuits (PIC) Andrzej Ciminski |
| 16:30 | Ende & Networking Gespräche und Ausklang der Veranstaltung |
Eine Kombination aus technischen Präsentationen, Live-Demos und direkte Gesprächen mit unseren Experten bieten Ihnen wertvolle Einblicke, wie Sie die wachsenden Herausforderungen beim Testen und Design photonischer Systeme in einem schnelllebigen Markt erfolgreich meistern können.
Teilnahmeinformationen
Die Vorträge finden in englischer Sprache statt.
Eine Anmeldung ist notwendig, denn die Teilnehmerzahl ist begrenzt.
Die Teilnahme ist kostenfrei.
