電子機器設計に対する要求は複雑化が進んでいます。入出力パラメータの増加、厳しい電力効率の要求、そして高まる規格準拠の必要性。これらに対処するには、基本的な開発研究ベンチでも「より多くの電力」「より多くの測定チャネル」「より高い精度」が求められます。本ウェブセミナーでは、そのようなご要望に対応するべく進化したキーサイトの基本測定器Smart Bench Essentials Plus のご紹介と、この新製品がいかに皆様の試験レベルを高め、信頼できる測定インサイトを提供するのかをお届けします。

内容：

• 新製品紹介：電源、波形発生器、デジタルマルチメータ、オシロスコープの各機器の特長を詳しく解説
• 専門家による技術解説：開発に携わった弊社John Kenny氏とJim Benson氏が、プロレベルの測定技術をわかりやすくご紹介
• 新旧比較：現行モデルでは見逃していたかもしれない信号や重要な課題を、新製品ならどのように捕捉できるかを実演
• アプリケーションデモ：バッテリーモニタリングシステムのテスト、ダブルパルス信号の生成、突入電流の測定など、実践的なデモを実施
  

対象：

• 電子機器の設計・開発に携わるエンジニア、大学などで研究をしている方、品質管理、テストエンジニア、テストベンチ環境にご興味のある方

登壇するエキスパート：

• Gobi Tamil-Vanan（プロダクトマーケター）
  
• John Kenny（R&Dマネージャー）
  
• Jim Benson（プロダクト・プランニング・マネージャー）
  
• Bernard Ang（プロダクトマーケター）
  
• Kenny Lim（プロダクトマネージャー）
  
• Lau Pui Ching（プロダクトマネージャー）
  
• Wong Seok Jin（プロダクトマネージャー）
  

Smart Bench Essentials Plus が、どのように皆様の試験環境のレベルを高めるのかを是非ご覧ください。

本Webinarは海外で配信したビデオに日本語字幕を追加して配信します。